Determinación de la relación entre el número de electrones de retroceso y el número de fotoelectrones mediante un nuevo método
DOI:
https://doi.org/10.5377/nexo.v34i04.12688Palabras clave:
Mediciones simultáneas, Fotoefecto, Dispersión Compton, Estado de electrones ligados, Estado de electrones libresResumen
La urgencia del problema investigado se debe a la divergencia de los resultados de las investigaciones teóricas y experimentales conocidas de los diferentes tipos de interacción de los fotones de la radiación ionizante con las sustancias, en particular, el fotoefecto y la dispersión Compton de estos fotones. El objetivo del trabajo era realizar mediciones específicas mediante un nuevo método, determinando simultáneamente la relación entre el número de electrones de retroceso y el número de fotoelectrones. El análisis de los resultados mostró que existe una marcada diferencia entre los cálculos teóricos y los datos experimentales. Los nuevos resultados de las relaciones de sección transversal medidos simultáneamente para los átomos pesados mediante el método desarrollado por el autor y las antiguas mediciones de estas relaciones para los átomos ligeros mediante la cámara de Wilson, al compararlos con los cálculos teóricos, muestran que existe una diferencia unidireccional considerable (de un orden de magnitud o más) para los rayos X y los gammas del rango de energía considerado. Se demuestra que estas discrepancias pueden explicarse porque el electrón del átomo está en estado libre durante un tiempo determinado. La dispersión Compton se produce en un electrón libre, el fotoefecto sólo en un electrón ligado. Por lo tanto, la sección transversal de la dispersión incoherente es proporcional al tiempo del electrón en el estado libre, mientras que la sección transversal del efecto fotoeléctrico es proporcional al tiempo del electrón en el estado ligado. Los materiales de este artículo pueden ser útiles para la investigación tanto fundamental como aplicada de la interacción de los cuantos de luz con la materia, incluyendo la simulación de los fenómenos en cuestión.
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