Propiedades estructurales y optoelectrónicas de películas delgadas de CdO dopadas con níquel depositadas por técnica de pulverización pirolítica
DOI:
https://doi.org/10.5377/nexo.v36i06.17463Palabras clave:
CdO dopado con Ni, pulverización pirolítica, películas delgadas, propiedades estructurales, película transparente, propiedades optoelectrónicasResumen
En este trabajo, se fabricaron películas delgadas de óxido de cadmio (CdO) y óxido de cadmio dopado con níquel (CdO: Ni) sobre un sustrato de vidrio mediante la técnica de pulverización pirolítica. Las películas de CdO sin dopar y dopadas con Ni se depositaron sobre un sustrato de vidrio calentado a 400 °C. La estructura, morfología y propiedades ópticas de las películas se investigaron y analizaron en función del nivel de dopaje de Ni. Según se confirmó mediante diferentes caracterizaciones, las películas preparadas tienen una estructura policristalina con forma cúbica. Según los resultados, las películas de CdO puro mostraron patrones de difracción más nítidos e intensos que las películas con dopaje de Ni. En comparación con las películas de CdO puro, el tamaño promedio de grano de las películas dopadas disminuye con el aumento del nivel de dopaje. Además, las propiedades ópticas de las películas delgadas de CdO dopado con Ni mostraron un coeficiente de absorción más bajo que las películas puras. Sin embargo, la mayor transparencia de las películas de CdO dopadas con Ni en la región visible se considera una buena ventana para la mayoría de las aplicaciones de dispositivos optoelectrónicos. La banda de energía se ajustó mediante impurezas de dopaje de Ni y aumenta a medida que aumenta el nivel de dopaje
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